Метод электронного туннелирования. Метод измерения толщины оксидных пленок барьерного типа на проводящей поверхности металла

Издание представляет собой описание метода измерений толщины тонких оксидных пленок на поверхности металлов. Метод не может гарантировать достоверность результатов измерений и может быть использован только для проведения измерений, являющихся предметом научных исследований, ввиду его новизны. При наличии альтернатив предпочтение следует отдавать методам, использование которых регламентировано. Разработчик не несет ответственность за недостоверность результатов измерений. Разработал Атигаев А. С.